Search academic texts

Information × Registration Number 0405U004882, Candidate dissertation Status к.ф.-м.н. Date 28-10-2005 popup.evolution o Title X-ray Diffraction in Crystals and Multilayer Nanoscale Systems which Contains Dislocation Loops Author Gevyk Vasyl Bogdanovich, popup.head Fodchuk Igor Michaylovich popup.opponent Прокопенко Ігор Васильович popup.opponent Венгренович Роман Дмитрович Description За допомогою чисельних методів розв'язку рівнянь Такагі проаналізовано механізми динамічного розсіяння Х-променів у випадку аномального проходження на окремих структурних дефектах (дислокаціях, дислокаційних петлях і бар'єрах) в кремнії. Знайдено структурні параметри багатошарових нанорозмірних систем, що містять квантові ями типу InxGa1-xAs1-yNy за допомогою Х-променевої двокристальної дифрактометрії. Registration Date 2005-10-28 popup.nrat_date 2020-04-04 Close