Раранский Андрей Николаевич. Рентгеновская дифрактометрия тонких приповерхностных слоев монокристаллов
: к.ф.-м.н. :
спец.. 01.04.07 - Фізика твердого тіла :
дата захисту 1996-02-27; Статус: Захищена;
Черновицкий государственный университет им. Юрия Федьковича. – ,
0496U002271.
Оновлено: 2026-11-07