Знайдено документів: 1
Інформація × Реєстраційний номер 0496U002271, Кандидатська дисертація На здобуття к.ф.-м.н. Дата захисту 27-02-1996 Статус Запланована Назва роботи Рентгеновская дифрактометрия тонких приповерхностных слоев монокристаллов Здобувач Раранский Андрей Николаевич, Керівник Фодчук И.М. Опонент Молодкин В.Б. Опонент Раренко И.М. Опис Объект исследования: Идеальные и реальные кристаллы. Цель исследования: Экспериментальное и теоретическое исследование резко асимметричных случаев дифракции рентгеновских лучей в кристаллах. Методы исследования и аппаратура: Одно- и двухкристальная рентгеновская дифрактометрия, топография, рефлектометрия. Теоретические результаты и новизна: Расширение физических представлений о процессах рассеяния рентгеновских лучей в асимметричных случаях дифракции в кристаллах. Практические результаты и новизна: Разработка неразрушающих методов контроля совершенства приповерхностных слоев монокристаллов. Дата реєстрації 1996-02-27 Додано в НРАТ 2020-05-17 Закрити
Дисертація кандидатська
Рентгеновская дифрактометрия тонких приповерхностных слоев монокристаллов
Раранский Андрей Николаевич. Рентгеновская дифрактометрия тонких приповерхностных слоев монокристаллов : к.ф.-м.н. : спец.. 01.04.07 - Фізика твердого тіла : дата захисту 1996-02-27; Статус: Захищена; Львовский государственный университет им.И.Франко. – , 0496U002271.
Знайдено документів: 1

Оновлено: 2026-03-20


Роздрукувати цю сторінку