Search academic texts

Information × Registration Number 0513U000005, Doctoral dissertation Status д.ф.-м.н. Date 25-12-2012 popup.evolution o Title Bases of the dynamical multiparametric diffractometry of single crystals with defects Author Len Evgeniy Georgievich, popup.head Molodkin Vadim Borisovich popup.opponent Раранський Микола Дмитрович popup.opponent Іванов Михайло Олексійович popup.opponent Білоколос Євген Дмитрович Description Відкрито явище унікальної структурної чутливості залежностей картини багатократного розсіяння від умов дифракції випромінень в монокристалах з дефектами. Встановлено, що природа цього явища полягає у виникненні взаємозв'язку між залежностями динамічної картини розсіяння від характеристик дефектів і від умов дифракції за рахунок нелінійних ефектів взаємного впливу процесів багатократного розсіяння на періодичній і флуктуаційній частинах кристалічного потенціалу. Побудовано узагальнені теоретичні моделі динамічного розсіяння випромінень у кристалах з дефектами довільних розмірів для різних умов дифракції та методів вимірювання. Встановлено і кількісно описано механізми, що обумовлюють відкрите явище та забезпечують радикальне (на кілька порядків величини) підвищення чутливості до характеристик дефектів динамічної картини розсіяння в порівнянні з кінематичною. Розроблено та апробовано принципово нові кількісні методи динамічної багатопараметричної дифрактометрії дефектів декількох типів в монокристалах, які базуються на спільній обробці даних дифракційних експериментів, одержаних за різних умов динамічної дифракції та різними експериментальними методами, і забезпечують підвищення як чутливості, так і однозначності та інформативності комбінованої діагностики складних дефектних структур в монокристалічних виробах сучасних технологій. Registration Date 2012-12-25 popup.nrat_date 2020-04-04 Close