Знайдено документів: 8
Грицаєнко Ярослав Олександрович. Розсіювання поверхневих та об’ємних електромагнітних хвиль шорсткими кристалічними поверхнями : Кандидат фізико-математичних наук : спец.. 01.04.07 - Фізика твердого тіла : дата захисту 2021-04-28; Статус: Захищена; Інститут фізики напівпровідників імені В. Є. Лашкарьова Національної академії наук України. – Київ, 0421U102758.
Керівник: Кладько Василь Петрович. Розробка нових методів формування функціональних напівпровідникових матеріалів і приладових структур. (Етап: ). Інститут фізики напівпровідників імені В. Є. Лашкарьова Національної академії наук України. № 0221U102896
Керівник: Олексенко Павло Феофанович. Дослідження особливостей хвильових оптичних явищ наноструктурованих/ нанокомпозитних середовищ та розробка технології функцінальних матеріалів і структур оптоелектроніки. (Етап: ). Інститут фізики напівпровідників імені В. Є. Лашкарьова Національної академії наук України. № 0221U102657
Лопатіна Ярослава Юріївна. Дослідження самоорганізації органічних молекул на атомно-гладких поверхнях. : Кандидат фізико-математичних наук : спец.. 01.04.04 - Фізична електроніка : дата захисту 2019-12-19; Статус: Захищена; Інститут фізики НАН України. – Київ, 0419U005539.
Васько Артем Анатолійович. Трибологічні властивості наноструктурованих об’єктів на атомно-гладких поверхнях. : Кандидат фізико-математичних наук : спец.. 01.04.04 - Фізична електроніка : дата захисту 2019-06-27; Статус: Захищена; Інститут фізики НАН України. – Київ, 0419U003342.
Керівник: Борщагівський Євген Григорович. Дослідження взаємодії та розщеплення Рабі між поверхневим та локалізованим плазмонами за допомогою еліпсометрії. (Етап: ). Інститут фізики напівпровідників імені В.Є.Лашкарьова НАН України. № 0217U004114
Борщагівський Євген Григорович. Мікроскопія ближнього поля та застосування функціоналізованих зондів. : д.ф.-м.н. : спец.. 01.04.05 - Оптика, лазерна фізика : дата захисту 2016-10-27; Статус: Захищена; Інститут фізики НАН України. – , 0516U000827.
Керівник: Борщагівський Євген Григорович. Дослідження взаємодії та розщеплення Рабі між поверхневим та локалізованим плазмонами за допомогою еліпсометрії. (Етап: ). Інститут фізики напівпровідників імені В.Є.Лашкарьова НАН України. № 0216U003627
Знайдено документів: 8

Оновлено: 2026-11-04