Пошук академічних текстів

Інформація × Реєстраційний номер 0107U007817, ( 0209U002069  ) Науково-дослідна робота Назва роботи Діагностика руйнування об'єктів мікро- та наноелектроніки під зовнішнім впливом Керівник роботи Гермаш Людмила Павлівна, Дата реєстрації 13-09-2007 Організація виконавець Національний технічний університет України "Київський політехнічний інститут імені Ігоря Сікорського" Опис роботи Вивчення процесів руйнування (поява і зростання мікротріщин та інших дефектів) металевих частин об'єктів мікро- і наноелектроніки та їх провідників від зовнішніх дій. Додано в НРАТ 2024-12-10 Закрити