Пошук академічних текстів

Інформація × Реєстраційний номер 0111U006528, ( 0212U004773  ) Науково-дослідна робота Назва роботи Грід-технології для проведення неруйнівного аналізу фізичних параметрів напівпровідникових структур та приладів нано-, мікро- і оптоелектроніки Керівник роботи Бєляєв Олександр Євгенович, Доктор фізико-математичних наук Дата реєстрації 06-06-2011 Організація виконавець Інститут фізики напівпровідників імені В.Є.Лашкарьова НАН України Опис роботи Метою робіт є розроблення програмного забезпечення використовуючи ГРІД технології та проведення модернізації розрахункових потужностей кластера ІФН для сертифікованих методів неруйнівної діагностики напівпровідникових структур за допомогою методів електронно-дифракційної, рентгенівської мікроскопії, нанозондової електричної, оптичної конфокальної мікро-флюоресцентної і Раманівської спектроскопії для знаходження фізичних і хімічних характеристик наноструктрованих напівпровідникових матеріалів та їх нанокомпозитів з локальною роздільною здатністю від 1 нм до 100 нм. Додано в НРАТ 2024-12-10 Закрити