Інформація
Реєстраційний номер
0214U006916, 0113U000648 , Науково-дослідна робота
Назва роботи
Розроблення позиційно-чутливого кремнієвого детектора для рентгенівської дифрактометрії швидкоплинних процесів.
Назва етапу роботи
Керівник роботи
Пугач Валерій Михайлович,
Дата реєстрації
26-03-2014
Організація виконавець
Інститут фізики напівпровідників НАН України
Опис етапу
Для установки швидкісного рентгенографування ІПМ НАН України розроблено та протестовано прототипи різних мікро-детекторних систем з кроком стріпів/пікселів 50 - 200 мкм. Дослідження з мікропіксельним детектором TimePix, продемонстрували можливість спостереження за його допомогою динаміки фазових переходів в металах при їх нагріванні або охолодженні в реальному часі. Позиційна чутливість детектора становить 17 мікрон при часі спостереження від кількох десятків мілісекунд. Досліджено характеристики мікро-детекторних модулів на основі мікростріпових сенсорів та двох незалежних систем зчитування даних на основі мікропідсилювачів VA-SCM3 та X-DAS. Крок металевих сенсорів - (10 - 200) мікрон, товщина - 1-2 мікрони. Крок кремнієвих сенсорів - (50 - 200) мікрон, Товщина - 300 мікрон. Кількість стріпів - до 1024. Створене програмне забезпечення для накопичення та автоматизованої обробки даних з мікродетекторних модулів забезпечує визначення положення дифракційних піків, їх інтенсивності та ширини, як функцій температури зразків. Виміряна позиційна чутливість мікро-детекторів з кроком стріпів 50 мкм та 200 мкм становить 15 мікрон та 60 мікрон, відповідно, при часі спостереження від 40 мілісекунд. На установці рентгенографування швидкоплинних процесів ІПМ НАН України виконано фізичні дослідження ряду зразків сплавів заліза та титану при їх нагріванні/охолодженні з використанням мікродетекторів різного типу. З високою точністю ( ±1.2·10-3?) визначені параметри альфа-, гамма-фаз в армко-залізі в температурному діапазоні від 20 до 1200 градусів Цельсія при переході від ферриту до аустеніту. Розроблено технічне завдання на створення економічно ефективної широкодіапазонної позиційно чутливої детекторної системи для забезпечення нового рівня досліджень на установці швидкісного рентгенографування швидкоплинних процесів ІПМ НАН України. позиційно-чутливих детекторів на основі мікростріпових сенсорів та різних систем зчитування даних. Попередні результати, одержані із використанням комерційної системи зчитування даних "XDAS-UK" та мікростріпових металевих детекторів, виготовлених в ІЯД НАН України, показують можливість створення економічно ефективної позиційно чутливої детекторної системи для рентгенівської дифрактометрії швидкоплинних процесів в реальному часі. 4.По матеріалам досліджень зроблено 2 доповіді на міжнародних наукових форумах, 1 стаття прийнята для публікації в науковому журналі.
Опис продукції
Для установки швидкісного рентгенографування ІПМ НАН України розроблено та протестовано прототипи різних мікро-детекторних систем з кроком стріпів/пікселів 50 - 200 мкм. Дослідження з мікропіксельним детектором TimePix, продемонстрували можливість спостереження за його допомогою динаміки фазових переходів в металах при їх нагріванні або охолодженні в реальному часі. Позиційна чутливість детектора становить 17 мікрон при часі спостереження від кількох десятків мілісекунд. Досліджено характеристики мікро-детекторних модулів на основі мікростріпових сенсорів та двох незалежних систем зчитування даних на основі мікропідсилювачів VA-SCM3 та X-DAS. Крок металевих сенсорів - (10 - 200) мікрон, товщина - 1-2 мікрони. Крок кремнієвих сенсорів - (50 - 200) мікрон, Товщина - 300 мікрон. Кількість стріпів - до 1024. Створене програмне забезпечення для накопичення та автоматизованої обробки даних з мікродетекторних модулів забезпечує визначення положення дифракційних піків, їх інтенсивності та ширини, як функці
Автори роботи
Бурдін В.В.
Денисюк Д.С.
Ківа В.О.
Ковальчук О.С.
Міліція В.М.
Охріменко О.Ю.
Панасенко Я.В.
Пугач В.М
Пугач М.В.
Пугач Т.В
Сторожик Д.І.
Федорович О.А.
Додано в НРАТ
2020-04-02
Підписка
Повідомити вам про надходження повного тексту?
Оновлено: 2025-12-08
