Пошук академічних текстів

Інформація × Реєстраційний номер 0402U000122, Кандидатська дисертація На здобуття к.т.н. Дата захисту 19-12-2001 Статус Запланована Назва роботи Дослідження макроскопічних ростових дефектів кристалів ZnSe і CdZnTe Здобувач Клименко Ігор Андрійович, Керівник Мигаль В.П. Опонент Литвинов Л.А. Опонент Балицький О.І. Опис Об'єкт дослідження - кристали ZnSe і CdZnTe, а також детектори та оптичні елементи на їх основі. Мета дослідження - розробка методики виявлення та функціональної ідентифікації макроскопічних ростових дефектів кристалів ZnSe і CdZnTe. Методи дослідження та апаратура: Оптичні та діелектричні методи. Сучасні прилади та нестандартне обладнання. Теоретичні та практичні результати, новітність: Встановлено, що інформативними про характер внутрішніх полів є низькочастотні діелектричні параметри. Представлення діелектричних відгуків у вигляді графічних образів дозволило визначити характеристичні ознаки макроскопічних ростових дефектів та ідентифікувати їх як витоки чи стоки внутрішнього електричного поля. Показано можливість використання методики функціональної ідентифікації макроскопічних дефектів для контролю технологічної обробки кристалів, а також розроблено новий спосіб акустичної обробки кристалів ZnSe і CdZnTe. Ступінь упровадження: методика використовується на Державному підприємстві Науково-дослідний т ехнологічний інститут приладобудування (м. Харків). Галузь використання - напівпровідникове приладобудування. Дата реєстрації 2001-12-19 Додано в НРАТ 2020-04-04 Закрити