Пошук академічних текстів

Інформація × Реєстраційний номер 0498U002741, Кандидатська дисертація На здобуття к.ф.-м.н. Дата захисту 23-12-1998 Статус Запланована Назва роботи Использование сканирующей туннельной микроскопии для изучения поверхности твердых тел проводников Здобувач Прядкин Сергей Леонидович, Керівник Цой В.С. Опонент Черепин В.Т. Опонент Бекетов Г.В. Опис Объект исследования: Поверхности монокристаллов (110)W, (100)W, (0001)YBa2Cu3O7-x,(111)Si. Цель исследования: Изучение влияния морфологии поверхности на рассеяние электронов проводимости, электронных свойств поверхности и методов нанолитографии на поверхности. Методы исследования и аппаратура: Сканирующая туннельная микроскопия, комнатный, криогенный и сверхвысоковакуумный СТМ. Теоретические результаты и новизна: Впервые с помощью моделирования рассеяния электронов на определенном с помощью СТМ рельефе поверхности объяснены результаты по фокусировке электронов проводимости от поверхности (100) вольфрама. Практические результаты и новизна: Впервые на сколах YBa2Cu3O7-x in situ измеряна щель, разработаны методы нанографической модификации с широким диапазоном создаваемых особенностей на поверхности (111) Si, получены изображения атомно чистой поверхности (100)Сu и поверхности Cu(100)Cl. Предмет и степень внедрения: Публикации,патент, доклады, практическое использование. Сфера (область) использования: Физика твердого тела, физика поверхности, нанотехнология. Дата реєстрації 1998-12-23 Додано в НРАТ 2020-05-17 Закрити