Пошук академічних текстів

Інформація × Реєстраційний номер 2117U001001, Матеріали видань та локальних репозитаріїв Категорія Стаття Назва роботи Structural and Dielectric Characterization of Sm2MgMnO6 Автор Дата публікації 01-01-2017 Постачальник інформації Сумський державний університет Першоджерело http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/66018 Видання Sumy State University Опис The polycrystalline Sm2MgMnO6 (SMMO) was synthesized at 1173 K by means of sol-gel technique. Rietveld refinement of X-ray diffraction (XRD) pattern confirmed the formation of a single phase monoclinic structure with space group P21/n. The band gap achieved from UV-vis spectra shows the semiconducting nature of the material. To observe the effect of grains and grain-boundaries in the conduction process and dielectric relaxation measurements are carried out on SMMO sample at different frequencies between 313 K and 673 K. An electrical equivalent circuit consisting of the resistance and constant phase element is used to clarify the impedance data. Додано в НРАТ 2025-03-24 Закрити