Пошук академічних текстів

Інформація × Реєстраційний номер 2120U008878, Матеріали видань та локальних репозитаріїв Категорія Бакалаврська робота Назва роботи Системи аналізу зображення в методах візуального контролю якості ІС Автор Бердник Кирило ЮрійовичBerdnyk Kyrylo Yuriiovych Дата публікації 01-01-2020 Постачальник інформації Національний технічний університет України «Київський політехнічний інститут імені Ігоря Сікорського» Першоджерело https://ela.kpi.ua/handle/123456789/35115 Видання Київ Опис Метою роботи є аналіз галузі інспекції інтегральних схем, порівняння алгоритмів аналізу зображень, розгляд методів захоплення зображення, доцільних для поставленої задачі. У цій роботі будуть розглянуті методи виявлення дефектів, що застосовуються у візуальному контролі якості інтегральних схем, опис виникнення дефектів, можливі наслідки для роботи схеми, методи захоплення та отримання зображення світлової мікроскопії, їх порівняння, а також опис застосування конкретної техніки та програмного забезпечення для виявлення похибки металізації. The work aims to analyze the industry of inspection of integrated circuits, to compare image analysis algorithms suitable for a given task. In this work, we will consider methods for detecting defects that are used in visual quality control of integrated circuits, a description of the occurrence of defects, possible consequences for the operation of the circuit, methods for capturing and acquiring images of light microscopy, their comparison, as well as a description of the use of specific techniques and software for detecting metallization failures. Додано в НРАТ 2025-11-05 Закрити