Знайдено документів: 1
Керівник: Кременицький Валерій Вікторович. Дослідження складу та структури поверхні напівпровідних з'днань методами рентгенівського мікроаналізу.
Технічний центр Національної академії наук України. № 0101U000381
Знайдено документів: 1
Оновлено: 2026-03-14
