Пошук академічних текстів

Інформація × Реєстраційний номер 0104U009955, Науково-дослідна робота Назва роботи Розробка методик аналізу якості наноструктур (щільність дислокацій, шероховатість поверхні пластин на рівні 0,4 - 0,8 нм), що використовуються в технологічному циклі створення світловипромінюючих приладів, з використанням атомної силової мікроскопії Керівник роботи Богдан Віктор Іванович, Дата реєстрації 30-11-2004 Організація виконавець Центр трансферу технологій Опис роботи Метою цієї роботи є проведення теоретичних досліджень одержання оптимальних характеристик (рівня легування, товщини та складу активного шару) світловипромінюючих приладів на наноструктурах з квантовими точками. Додано в НРАТ 2024-12-11 Закрити