Пошук академічних текстів

Інформація × Реєстраційний номер 0106U002053, ( 0210U006739  ) Науково-дослідна робота Назва роботи Фізико-технологічні дослідження напівпровідникових матеріалів та низьковимірних структур для ІЧ мікрофотоелектроніки Керівник роботи Сизов Федір Федорович, Дата реєстрації 15-02-2006 Організація виконавець Інститут фізики напівпровідників імені В.Є.Лашкарьова НАН України Опис роботи Метою роботи є вивчення фізичних явищ та ефектів в напівпровідникових матеріалах та структурах, які можуть бути використані для розробки приладів інфрачервоної (ІЧ) мікро- та нанофотоелектроніки нового покоління, технологічних методів отримання напівпровідникових матеріалів і низьковимірних структур, а також методів досліджень їх фізичних властивостей. Додано в НРАТ 2024-12-11 Закрити