Знайдено документів: 1
Керівник: Деркач Вадим Миколайович. Розробка методів та пристроїв ближньохвильової мікроскопії для дослідження структури та властивостей нових напівпровідникових, діелектричних та наноматеріалів в гігагерцовому та терагерцовому діапазонах частот.
Інститут радіофізики та електроніки ім. О. Я. Усикова НАН України. № 0107U005174
Знайдено документів: 1
Оновлено: 2026-03-14
