Пошук академічних текстів

Інформація × Реєстраційний номер 0107U005781, ( 0208U000315  ) Науково-дослідна робота Назва роботи Розробка комплексних методів оптичної і магніторезонансної діагностики опто- та спінелектронних наноструктур Si/Ge та А3В5, сформованих методами самоорганізації Керівник роботи Валах Михайло Якович, Доктор фізико-математичних наук Дата реєстрації 04-07-2007 Організація виконавець Інститут фізики напівпровідників імені В.Є.Лашкарьова НАН України Опис роботи Метою роботи є розробка комплексної неруйнівної діагностики (оптичні, мікроскопічні та ЕПР методики) наноструктур (квантових ям, квантових ниток та квантових точок) на основі напівпровідників групи А3В5 та Si/Ge, в тому числі з магнітними домішками та проведення діагностики і паспортизації тестових наноструктур, сформованих при варіюванні технологічних параметрів молекулярно-променевої епітаксії Додано в НРАТ 2024-12-10 Закрити