Знайдено документів: 1
Керівник: Прокопенко Ігор Васильович. Розроблення і створення метрологічного комплексу для діагностики компонентної бази наноелектроніки методами скануючої зондової мікроскопії.
Інститут фізики напівпровідників імені В.Є.Лашкарьова НАН України. № 0108U004840
Знайдено документів: 1
Оновлено: 2026-03-15
