Пошук академічних текстів

Інформація × Реєстраційний номер 0108U009043, ( 0208U006534  ) Науково-дослідна робота Назва роботи Високороздільна рентгенівська дифрактометрія монокристалів Cz-Si після радіаційного опромінення високоенергетичними електронами та гамма-променями Керівник роботи Довганюк Володимир Васильович, Дата реєстрації 11-09-2008 Організація виконавець Чернівецький національний університет імені Юрія Федьковича Опис роботи З'ясування механізмів структурних змін і вибір відповідних їм моделей дефектної структури кристалів кремнію з кількома типами домінуючих мікродефектів, які б дозволили коректно описати результати впливу опромінення високоенергетичними частками та гамма-променями на дефектно-домішкову структуру монокристалів кремнію. Визначення можливих типів домінуючих мікродефектів в кристалах Cz-Si. Вивчення динаміки зміни концентрацій і розмірів мікродефектів та їх можливих систем в опромінених і неопромінених кристалах Si. Додано в НРАТ 2024-12-10 Закрити