Пошук академічних текстів

Інформація × Реєстраційний номер 0109U002862, ( 0211U004474  ) Науково-дослідна робота Назва роботи Розвиток методів ближньопольової мікроскопії для дослідження властивостей наноматеріалів та матеріалів з негативною рефракцією в міліметровому та субміліметровому діапазонах хвиль Керівник роботи Деркач Вадим Миколайович, Дата реєстрації 27-03-2009 Організація виконавець Інститут радіофізики та електроніки ім. О. Я. Усикова НАН України Опис роботи Розвиток методів ближньопольової мікроскопії для дослідження внутрішньої структури й просторових характеристик нових технологічних матеріалів таких як напівпровідникові структури, нано- і метаматеріали, включаючи матеріали з негативною рефракцією в міліметровому й субміліметровому діапазонах довжин хвиль. - дослідження властивостей нових напівпровідникових структур для датчиків у діапазоні TГц;. Додано в НРАТ 2024-12-10 Закрити