Знайдено документів: 1
Інформація × Реєстраційний номер 0110U004655, ( 0211U001351  0212U001291  0213U000163  0214U001027  0214U005447  ) Науково-дослідна робота Назва роботи Розроблення та розвиток методів субмікронного топографування та паспортизації хімічного складу, структурної досконалості, електрофізичних параметрів та розподілу механічних напружень у наноструктурах електроніки і оптоелектроніки. Керівник роботи Стрельчук Віктор Васильович, Доктор фізико-математичних наук Дата реєстрації 26-04-2012 Організація виконавець Інститут фізики напівпровідників імені В.Є.Лашкарьова НАН України Опис роботи Розроблення сертифікованих методів просторового топографування із нанометровою роздільною здатністю при діагностиці фізичних, хімічних і електрофізичних параметрів наноматеріалів з використанням неруйнівної конфокальної скануючої Раманівської і люмінесцентної спектроскопії та нанозондової мікроскопії для потреб фізики, оптоелектроніки та матеріалознавства. Додано в НРАТ 2024-12-10 Закрити
НДДКР РК
Розроблення та розвиток методів субмікронного топографування та паспортизації хімічного складу, структурної досконалості, електрофізичних параметрів та розподілу механічних напружень у наноструктурах електроніки і оптоелектроніки.
Керівник: Стрельчук Віктор Васильович. Розроблення та розвиток методів субмікронного топографування та паспортизації хімічного складу, структурної досконалості, електрофізичних параметрів та розподілу механічних напружень у наноструктурах електроніки і оптоелектроніки.. Інститут фізики напівпровідників імені В.Є.Лашкарьова НАН України. № 0110U004655
Знайдено документів: 1

Оновлено: 2026-03-20


Роздрукувати цю сторінку