Пошук академічних текстів

Інформація × Реєстраційний номер 0110U004656, ( 0211U008220  0212U004753  0213U003378  0214U001029  0214U008422  ) Науково-дослідна робота Назва роботи "Створення методу та апаратури для рентгено-ультраакустистичної експресної багатопараметричної діагностики наносистем" Керівник роботи Оліх Ярослав Михайлович, Дата реєстрації 26-04-2012 Організація виконавець Інститут фізики напівпровідників імені В.Є.Лашкарьова НАН України Опис роботи Cтворення теоретичних і експериментальних основ та апаратурної реалізації методу рентгено-ультраакустичної інтегральної динамічної дифрактометрії характеристик одночасно багатьох типів дефектів у напівпровідникових кристалічних наносистемах. Додано в НРАТ 2024-12-10 Закрити