Пошук академічних текстів

Інформація × Реєстраційний номер 0115U002989, Науково-дослідна робота Назва роботи Розвиток дифрактометричних та рефлектометричних методик досліджень структурних властивостей напівпровідникових та гібридних систем низької розмірності Керівник роботи Кладько Василь Петрович, Дата реєстрації 11-04-2015 Організація виконавець Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова Національної академії наук України Опис роботи Комплексний розвиток діагностичних дифракційних методів для дослідження матеріалів та структур в широкому діапазоні зміни їх розмірностей та типу кристалічної структури для керування технологічними параметрами при створенні приладів та систем сучасної електроніки. Додано в НРАТ 2024-12-10 Закрити