Знайдено документів: 1
Інформація × Реєстраційний номер 0119U003076, ( 0220U000511  ) Науково-дослідна робота Назва роботи Розробка методики вимірювання електричних параметрів та випробування транзисторів FinFET з резистивним затвором (далі ОВ - об'єкти випробувань) для визначення їх вольт-амперних характеристик та нагрівання в процесі експлуатації Керівник роботи Назаров Олексій Миколайович, Доктор фізико-математичних наук Дата реєстрації 05-11-2019 Організація виконавець Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова Національної академії наук України Опис роботи Розробка методики визначення температури нагрівання нанотранзисторів типу FinFET (у робочих режимах) Додано в НРАТ 2024-12-10 Закрити
НДДКР РК
Розробка методики вимірювання електричних параметрів та випробування транзисторів FinFET з резистивним затвором (далі ОВ - об'єкти випробувань) для визначення їх вольт-амперних характеристик та нагрівання в процесі експлуатації
Керівник: Назаров Олексій Миколайович. Розробка методики вимірювання електричних параметрів та випробування транзисторів FinFET з резистивним затвором (далі ОВ - об'єкти випробувань) для визначення їх вольт-амперних характеристик та нагрівання в процесі експлуатації. Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова Національної академії наук України. № 0119U003076
Знайдено документів: 1

Оновлено: 2026-03-18


Роздрукувати цю сторінку