Пошук академічних текстів

Інформація × Реєстраційний номер 0200U001824, 0199U000429 , Науково-дослідна робота Назва роботи Дослідження структурної моделі фотопровідності напівпровідників Назва етапу роботи Керівник роботи Гохман Олександр Рафаїлович, Дата реєстрації 30-03-2000 Організація виконавець Південноукраїнський державний педагогічний університет ім. К.Д.Ушинського Опис етапу Розроблено експериментальний метод визначення текстурних параметрів полікристалічних металічних плівок, метод визначення залишкових напруг на основі даних рентгенівських вимірювань міжплощиної відстані для різних напрямків в тонких плівках. Показано необхідність включення текстурних параметрів в структурну модель фотопровідності. Галузь використання: нові матеріали та речовини. Опис продукції Автори роботи Додано в НРАТ 2020-04-03 Закрити