Пошук академічних текстів

Інформація × Реєстраційний номер 0203U008546, 0101U000570 , Науково-дослідна робота Назва роботи Низькотемпературна лазерна скануюча мікроскопія надпровідникових структур Назва етапу роботи Керівник роботи Сиваков Олександр Георгійович, Дата реєстрації 15-12-2003 Організація виконавець Фiзико-технiчний iнститут низьких температур iм. Б.I.Вєркiна Опис етапу Проведено експериментальні та теоретичні дослідження локальних критичних струмів и критичних температур в окремих стрічках високо-температурних кабелів та в монокристалах YBCO, що містять двійникові границі, за допомогою низькотемпературного лазерного скануючого мікроскопу (НТСЛМ). Ця методика може бути використана для удосконалення процедури виготовлення кабелів з метою підвищення їх струмонесучої здібності та для реалізації періодичної структури слабких ланок типу S-S'-S, у яких можливий ефект Джозефсона. Опис продукції Автори роботи Додано в НРАТ 2020-04-02 Закрити