Пошук академічних текстів

Інформація × Реєстраційний номер 0204U000613, 0101U008200 , Науково-дослідна робота Назва роботи Дво- та багатохвильова рентгенівська дифрактометрія надтонких шарів та наноструктур Назва етапу роботи Керівник роботи Раранський Микола Дмитрович, Дата реєстрації 16-02-2004 Організація виконавець Чернівецький національний університет імені Юрія Федьковича Опис етапу Об"єктами дослідження є : кристали кремнію, багатошарові нанорозмірні структури, кристали GaAs з поверхнями заданого субмікронного рель"єфу. Досліджено процеси взаємодифузії основних компонент на границях розділу в багатошарових нанорозмірних структурах, що містять одну або дві квантові ями. Розроблено нові методи визначення параметрів шорсткості поверхні твердих тіл методами дво- і трикристальної рентгенівської рефлектометрії. Встановлено взаємозв’язок інтегральних характеристик динамічного розсіяння рентгенівського проміння, температурних спектрів поглинання пружної енергії із змінами дефектної структури кремнію, опроміненого високоенергетичними електронами і гама- квантами в процесі природного старіння. Опис продукції Автори роботи Додано в НРАТ 2020-04-02 Закрити