Пошук академічних текстів

Інформація × Реєстраційний номер 0204U005205, 0101U004215 , Науково-дослідна робота Назва роботи Розвиток нових неруйнуючих методів для діагностики епітаксійних напівпровідникових структур Назва етапу роботи Керівник роботи Молодкін Вадим Борисович, Дата реєстрації 08-04-2004 Організація виконавець Інститут металофізики ім. Г. В. Курдюмова НАН України Опис етапу Відзначається, що двокристальна рентгенівська дифрактометрія є ефек-тивним неруйнуючим інструментом діагностики нанорозмірних гетерофаз-них багатошарових систем. Досліджено багатошарові напівпровідникові структури, що містять шари з квантовою ямою. Шляхом моделювання отри-маних кривих дифракційного відбивання і порівняння з експериментальними визначено характер ступінь взаємодифузії In та Ga на границях розділу ша-рів КЯ, ступінь релаксації напруг до і після відпалу. Визначено вміст азоту в квантових ямах і зміну його концентрації в залежності від умов вирощування. Опис продукції Автори роботи Додано в НРАТ 2020-04-02 Закрити