Пошук академічних текстів

Інформація × Реєстраційний номер 0205U000216, 0104U004871 , Науково-дослідна робота Назва роботи Інформаційні і комп'ютерні технології в діагностиці матеріалів Назва етапу роботи Керівник роботи Молодкін Вадим Борисович, Дата реєстрації 19-01-2005 Організація виконавець Інститут металофізики ім. Г. В. Курдюмова НАН України Опис етапу Створено теоретичну модель та розроблено методи інтегральної дифрактометрії кількісних характеристик одночасно присутніх порушених поверхневих шарів та випадково розподілених нанорозмірних дефектів (ВРНД) у кристалах. Вперше експериментально доведено наявність залежності інтегральної інтенсивності дифузного розсіяння від ступеня однорідної макроскопічної пружної деформації. Це забезпечило можливість адекватного кількісного визначення характеристик ВРНД шляхом моделювання та фітування експериментальних деформаційних залежностей ПІВЗ. Розроблено теоретичні і експериментальні основи високороздільної рентгенівської двокристальної дифрактометрії структури наноразмірних багатошарових систем з квантовими ямами і процесів взаємодифузії атомів компонентів і релаксації напруг між шарами. Опис продукції Автори роботи Додано в НРАТ 2020-04-02 Закрити