Пошук академічних текстів

Інформація × Реєстраційний номер 0205U006476, 0104U010073 , Науково-дослідна робота Назва роботи Розвиток комплексу методів практичної діагностики для супроводження сучасних технологій отримання наноструктур із заданими фізичними і фізико-хімічними параметрами та характеристиками Назва етапу роботи Керівник роботи Прокопенко Ігор Васильович, Дата реєстрації 15-11-2005 Організація виконавець Інститут фізики напівпровідників імені В.Є.Лашкарьова НАН України Опис етапу Проведено теоретичний аналіз особливостей дифракції рентгенівських променів в надграткових напівпровідникових структурах із локальними неоднорідностями типу квантових точок та удосконалена рентгенодифрактометрична методика для її використання в неруйнівній діагностиці компонентного складу напівпровідникових наноструктур. Опис продукції Автори роботи Додано в НРАТ 2020-04-02 Закрити