Знайдено документів: 1
Реєстраційний номер

0205U006476, 0104U010073 , Науково-дослідна робота

Назва роботи

Розвиток комплексу методів практичної діагностики для супроводження сучасних технологій отримання наноструктур із заданими фізичними і фізико-хімічними параметрами та характеристиками

Керівник роботи

Прокопенко Ігор Васильович,

Дата реєстрації

15-11-2005

Організація виконавець

Інститут фізики напівпровідників імені В.Є.Лашкарьова НАН України

Опис

Проведено теоретичний аналіз особливостей дифракції рентгенівських променів в надграткових напівпровідникових структурах із локальними неоднорідностями типу квантових точок та удосконалена рентгенодифрактометрична методика для її використання в неруйнівній діагностиці компонентного складу напівпровідникових наноструктур.

Опис продукції

Автори роботи

НДДКР
Розвиток комплексу методів практичної діагностики для супроводження сучасних технологій отримання наноструктур із заданими фізичними і фізико-хімічними параметрами та характеристиками
Керівник: Прокопенко Ігор Васильович. Розвиток комплексу методів практичної діагностики для супроводження сучасних технологій отримання наноструктур із заданими фізичними і фізико-хімічними параметрами та характеристиками. Інститут фізики напівпровідників імені В.Є.Лашкарьова НАН України. № 0205U006476
Знайдено документів: 1

Оновлено: 2024-07-27


Роздрукувати цю сторінку