Знайдено документів: 1
Інформація × Реєстраційний номер 0208U000762, 0107U005775 , Науково-дослідна робота Назва роботи Розробка високочутливих методів рентгеноакустичної та АСМ діагностики пружнодеформованого стану кристалів та гетероструктур Назва етапу роботи Керівник роботи Мачулін Володимир Федорович, Кладько Василь Петрович, Дата реєстрації 15-02-2008 Організація виконавець Інститут фізики напівпровідників імені В.Є.Лашкарьова НАН України Опис етапу В роботі проведено огляд сучасних уявлень про структурні спотворення кристалічної гратки, які обумовлюють модифікацію закономірностей дифракції когерентних хвиль в порівнянні з досконалим кристалом та приводять до виникнення некогерентного розсіяння Х-променів, що є основою дифрактометричних методів діагностики. Для розвитку останніх поряд з вивченням закономірностей впливу на дифракційні параметри статичних спотворень різної природи значний інтерес представляє дослідження розсіяння короткохвильових випромінювань в акустично збуджених кристалах. Як показали результати досліджень останніх років, в тому числі і в нашому інституті, ці методики є досить перспективними для структурних досліджень масивних слабкопоглинаючих монокристалів кремнію. Опис продукції Автори роботи Додано в НРАТ 2020-04-02 Закрити
НДДКР ОК
Керівник: Мачулін Володимир Федорович, Кладько Василь Петрович. Розробка високочутливих методів рентгеноакустичної та АСМ діагностики пружнодеформованого стану кристалів та гетероструктур. (Етап: ). Інститут фізики напівпровідників імені В.Є.Лашкарьова НАН України. № 0208U000762
Знайдено документів: 1

Оновлено: 2026-03-18