Пошук академічних текстів

Інформація × Реєстраційний номер 0208U000875, 0107U005765 , Науково-дослідна робота Назва роботи Одержання та паспортизація еталонного ряду монокристалічних зразків і реалізація методики експрес-вимірювань величини інтегрального розсіювання випромінювання в кристалах германію Назва етапу роботи Керівник роботи Пекар Григорій Соломонович, Дата реєстрації 21-02-2008 Організація виконавець Інститут фізики напівпровідників імені В.Є.Лашкарьова НАН України Опис етапу Розроблено та реалізовано експресну та високоінформативну методику діагностики якості об'ємних монокристалів оптичного германію по величині розсіювання інфрачервоного випромінювання у діапазоні 2-11 мкм. Застосовано елементну базу нового покоління - прилади високої чутливості і роздільної здатності, а для реєстрації та обробки інформації - високопродуктивну обчислювальну техніку. У поєднанні з відсутністю вузлів з механічними приводами все це дає змогу у десятки разів скоротити витрати часу на кожний цикл вимірювань без погіршення їхньої точності, а також значно підвищити інформаційну наповненість одержуваних результатів, зокрема, дає змогу визначати просторовий розподіл величини розсіювання. За допомогою оригінального технологічного методу вирощування кристалів оптичного германію виготовлено еталонний ряд зразків діаметром 30 мм, величина питомого електричного опору яких знаходилася у межах від 4 до 40 Омсм при дискретності опору 4 Омсм при переході від одного зразка до іншого. Проведено паспортизацію еталонних зразків по 8 електричним та оптичним параметрам, актуальним для практичного використання оптичного германію Створені еталонний ряд паспортизованих монокристалічних зразків оптичного германія і методика експрес-вимірювань величини інтегрального розсіювання випромінювання можуть бути застосовані для сертифікації германійових кристалів, які використовуються для виготовлення оптичних елементів для різних галузей техніки і медицини. Опис продукції Автори роботи Додано в НРАТ 2020-04-02 Закрити