Пошук академічних текстів

Інформація × Реєстраційний номер 0208U006534, 0108U009043 , Науково-дослідна робота Назва роботи Високороздільна рентгенівська дифрактометрія монокристалів Cz-Si після радіаційного опромінення високоенергетичними електронами та гамма-променями Назва етапу роботи Керівник роботи Довганюк Володимир Васильович, Дата реєстрації 10-12-2008 Організація виконавець Чернівецький національний університет імені Юрія Федьковича Опис етапу Визначено закономірності формування контурів ізодифузних ліній, кривих дифракційного відбивання та профілів просторового розподілу інтенсивності як від окремих типів мікродефектів, так і їх комплексів у монокристалах Cz-Si за допомогою комплексних підходів динамічної теорії розсіяння рентгенівських променів у кристалах з рівномірно розподіленими мікродефектами кількох типів; з'ясовано особливості структурних змін і вибрано відповідні їм моделі дефектної структури кристалів кремнію з кількома типами домінуючих мікродефектів, які дозволили коректно описати результати впливу опромінення високоенергетичними частками та гамма-променями на дефектно - домішкову структуру монокристалів кремнію; створено нові алгоритми обробки даних високоінформативних методів діагностики нанорозмірних дефектів. Опис продукції Автори роботи Додано в НРАТ 2020-04-02 Закрити