Знайдено документів: 1
Керівник: Деркач Вадим Миколайович. Розробка методів та пристроїв ближньохвильової мікроскопії для дослідження структури та властивостей нових напівпровідникових, діелектричних та наноматеріалів в гігагерцовому та терагерцовому діапазонах частот. (Етап: ). Iнститут радіофізики та електроніки ім. О.Я.Усикова НАН України. № 0209U001114
Знайдено документів: 1
Оновлено: 2026-03-16
