Знайдено документів: 1
Інформація × Реєстраційний номер 0209U001114, 0107U005174 , Науково-дослідна робота Назва роботи Розробка методів та пристроїв ближньохвильової мікроскопії для дослідження структури та властивостей нових напівпровідникових, діелектричних та наноматеріалів в гігагерцовому та терагерцовому діапазонах частот Назва етапу роботи Керівник роботи Деркач Вадим Миколайович, Дата реєстрації 15-01-2009 Організація виконавець Iнститут радіофізики та електроніки ім. О.Я.Усикова НАН України Опис етапу Проведено аналітичний аналіз методів ближньопольової мікроскопії в оптичному та гігагерцовому діапазонах частот. Розроблено макети хвилеводних та резонансних випромінювачів на основі відкритих резонансних структур, проведено дослідження їх спектральних характеристик та діаграм випромінювання. Модернізовано макет скануючого пристрою з порядковим скануванням та виготовлено макет пристрою для сканування по колу. Проведено модельні експерименти з аналізу амплітудних та фазових зображень полів розсіювання електромагнітних хвиль на модельних об'єктах. Проведено спільні експерименти з литовськими колегами. Зроблено 4 доповіді на міжнародних конференціях, подано до друку 2 статті Опис продукції Автори роботи Додано в НРАТ 2020-04-02 Закрити
НДДКР ОК
Керівник: Деркач Вадим Миколайович. Розробка методів та пристроїв ближньохвильової мікроскопії для дослідження структури та властивостей нових напівпровідникових, діелектричних та наноматеріалів в гігагерцовому та терагерцовому діапазонах частот. (Етап: ). Iнститут радіофізики та електроніки ім. О.Я.Усикова НАН України. № 0209U001114
Знайдено документів: 1

Оновлено: 2026-03-16