Пошук академічних текстів

Інформація × Реєстраційний номер 0209U002068, 0107U007816 , Науково-дослідна робота Назва роботи Розробка методики отримання карт орієнтації кластерів на гранях зростаючого кристалу методом дифракції відбитих електронів з просторовою розподільчою здатністю 10 нм та менше Назва етапу роботи Керівник роботи Гордійко Наталія Олександрівна, Дата реєстрації 19-01-2009 Організація виконавець Національний технічний університет України "Київський політехнічний інститут імені Ігоря Сікорського" Опис етапу Об'єкти дослідження - методи дифракції відбитих електронів для отримання карт орієнтації кластерів на гранях зростаючих кристалів з просторовою роздільною здатністю 10 нм і нижче, дифрактограми відбитих електронів, а також мікрошари полікарбонатів. Мета роботи - розробка методики отримання карт орієнтації кластерів на гранях зростаючого кристалу методом дифракції відбитих електронів з просторовою роздільною здатністю 10 нм та менше. Метод дослідження - аналіз карт орієнтації кластерів на гранях зростаючих кристалів, метод дифракції відбитих електронів, метод дифракції Кікучі та методи Брегга, комплексні фізико-хімічними методи для пошарових досліджень граней полікристалічних кристалів. Проведені дослідження методами дифракції відбитих електронів для отримання карт орієнтації кластерів на гранях зростаючих кристалів. Досліджені дифрактограми Кікучі, отримані на кристалах полікарбонатів спеціальними методами дифракції відбитих електронів. Визначений фазовий склад мікрошарів полікарбонатів методом дифракції Кікучі в порівнянні з методами Брегга для удосконалення методики отримання карт орієнтації кластерів. Сформовані Кікучі-смуги в дифракційних картинах електронів середньої енергії в пошарових дослідженнях полікристалів А|||ВV. Проведений аналіз картин орієнтації кластерів. Розроблені рекомендації щодо їх отримання. Розроблена методика отримання карт орієнтації кластерів методом дифракції відбитих електронів. Прогнозні припущення щодо розвитку об'єкта дослідження - дослідження сполук неорганічної та органічної природи в нанорозмірному діапазоні, розробка методів діагностики приладів нанофізики та наноелектроніки. Опис продукції Автори роботи Додано в НРАТ 2020-04-02 Закрити