Знайдено документів: 1
Інформація × Реєстраційний номер 0209U008599, 0108U009039 , Науково-дослідна робота Назва роботи Структурна діагностика дефектів у реальних кристалах та гетерофазних наносистемах Назва етапу роботи Керівник роботи Фодчук Ігор Михайлович, Доктор фізико-математичних наук Дата реєстрації 10-11-2009 Організація виконавець Чернівецький національний університет імені Юрія Федьковича Опис етапу Розвинена динамічна теорія розсіяння Х- променів та створена модель, яка дає самоузгоджений опис процесів багатократного когерентного і дифузного розсіяння Х-променів у гетерофазних наносистемах. Розроблено нові теоретичні підходи до опису особливостей дво- та багатохвильової дифракції Х- променів складними багатошаровими структурами з квантовими ямами та точками. Створено алгоритми і відповідне програмне забезпечення для обробки даних експериментів для структурної діагностики дефектів у реальних кристалах, надтонких шарах та гетерофазних наносистемах. Проведено моделювання Х- променевих топографічних зображень деформаційних полів дислокаційних петель, дислокаційних бар'єрів Ломера - Котрела та їх комплексів у залежності від їх просторового розташування при переході від тонкого до товстого кристалів Опис продукції На основі оригінальних теоретичних і експериментальних досліджень розроблено нові теоретичні підходи до адекватного опису особливостей дво- та багатохвильової дифракції Х- променів складними багатошаровими структурами з квантовими ямами та точками. На їх основі проведено моделювання Х- променевих топографічних зображень деформаційних полів дислокаційних петель, дислокаційних бар'єрів Ломера - Котрела та їх комплексів у залежності від їх просторового розташування при переході від тонкого ( t 1) до товстого ( t >10) кристалів. За цими результатами створено атлас характерних зображень дефектів у кристалах. Автори роботи Борча Мар"яна Драгошівна Довганюк Володимир Васильович Заплітний Руслан Анатолійович Каземірський Тарас Анатолійович Кладько Василь Петрович Новіков Сергій Миколайович Струк Андрій Ярославович Федорцов Дмитро Георгійович Фодчук Ігор Михайлович Фодчук Максим Ігорович Додано в НРАТ 2020-04-02 Закрити
НДДКР ОК
Керівник: Фодчук Ігор Михайлович. Структурна діагностика дефектів у реальних кристалах та гетерофазних наносистемах. (Етап: ). Чернівецький національний університет імені Юрія Федьковича. № 0209U008599
Знайдено документів: 1

Оновлено: 2026-03-17