Пошук академічних текстів

Інформація × Реєстраційний номер 0210U001540, 0107U006993 , Науково-дослідна робота Назва роботи Нове покоління сертифікації матеріалів і виробів нанотехнології Назва етапу роботи Керівник роботи Молодкін Вадим Борисович, Дата реєстрації 24-02-2010 Організація виконавець Інститут металофізики ім. Г. В. Курдюмова НАН України Опис етапу Виконано детальний систематичний аналіз відкритого явища надзвичайної інформативності динамічної картини розсіяння у кристалах з дефектами, встановлено його фізичну природу та можливості практичного використання. Природа цього явища полягає в тім, що в кожнім з рефлексів картини розсіяння при переході від кінематичного до динамічного випадку починають принципово розрізнятися між собою залежності від умов динамічної дифракції Бреґґової та дифузної складових розсіяння, які завжди залишаються однаковими в кінематичній теорії. Ця принципова різниця обумовлена суттєво різними значеннями фундаментальних величин факторів розсіяння для Бреґґової і дифузної складових та їх різним характером, а саме, для Бреґґової - це усереднені за конфігураціями дефектів потенціали розсіяння (періодичні), а для дифузної - флуктуації від середнього потенціалу (неперіодичні). Встановлено аналітичний характер зазначених залежностей, що забезпечило унікальну можливість керування внеском дифузної складової при незмінних характеристиках дефектної структури лише за рахунок цілеспрямованої зміни умов динамічної дифракції, і, відповідно, управління характером впливу дефектів на картину розсіяння. При динамічній дифракції за рахунок зміни умов дифракції вдалось реалізувати і комбіновано (спільно) обробити необхідний повний набір незалежних дифракційних експериментів для одного зразка з фіксованою дефектною структурою з метою розв'язання оберненої задачі багатопараметричної діагностики матеріалів та виробів нанотехнологій з декількома типами дефектів. Таким чином, створено нове покоління кристалографії - дифузну динамічну комбіновану дифрактометрію (ДДКД) багатьох типів дефектів у монокристалах і гетерогенних системах. Опис продукції Розроблено нове покоління неруйнівної кількісної структурної діагностики матеріалів та виробів нанотехнологій, яке відрізняється від існуючих можливістю вперше визначати велику кількіть характеристик дефектів багатьох типів та параметрів наносистем, тобто розроблені теоретичні та експериментальні основи вперше багатопараетричної кристалографії, що названо дифузнодинамічною багатопараметричною дифрактометрією наносистем. Автори роботи Владімірова Тетяна Петрівна Дмітрієв Сергій Васильович Кисловський Євген Миколайович Лизунова Світлана Вячеславівна Молодкін Вадим Борисович Молодкіна Тетяна Григорівна Низкова Ганна Іванівна Оліховський Степан Йосипович Скакунова Олена Сергіївна Додано в НРАТ 2020-04-02 Закрити