Пошук академічних текстів

Інформація × Реєстраційний номер 0210U004045, 0108U000009 , Науково-дослідна робота Назва роботи Методичні особливості використання Кікучі-дифракції при дослідженні тонкої структури композитів надтвердих матеріалів Назва етапу роботи Керівник роботи Ткач Василь Миколайович, Доктор фізико-математичних наук Дата реєстрації 17-02-2010 Організація виконавець Інститут надтвердих матеріалів ім. В.М. Бакуля НАН України Опис етапу Розроблено методико-технологічні основи отримання поверхні з мінімальним порушеним шаром менше 5 нм, які дозволяють аналізувати пружно-деформований стан кристалітів до розміру 0,1 мкм у перерізі з використанням дифракції Кікучі. Встановлено, що максимальні пружні залишкові деформації (після синтезу) у сусідніх зонах росту алмазу досягають величини 1.10-3. Досліджено умови утворення текстури композитів на основі сBN-фази. Для ВК-сплавів така можливість не виявлена. Опис продукції Розроблено методико-технологічні основи отримання поверхні з мінімальним порушеним шаром менше 5 нм, які дозволяють аналізувати пружно-деформований стан кристалітів до розміру 0,1 мкм у перерізі з використанням дифракції Кікучі. Встановлено, що максимальні пружні залишкові деформації (після синтезу) у сусідніх зонах росту алмазу досягають величини 1.10-3. Досліджено умови утворення текстури композитів на основі сBN-фази. Для ВК-сплавів така можливість не виявлена. Автори роботи Бєляєва Тетяна Миколаївна Гонтар Олександр Григорович Кузьменко Євген Федорович Петруша Ігор Андрійович Прокопів Микола Михайлович Ткач Василь Миколайович Ткач Сергій Васильович Додано в НРАТ 2020-04-02 Закрити