Пошук академічних текстів

Інформація × Реєстраційний номер 0211U001360, 0108U000628 , Науково-дослідна робота Назва роботи Отримання та дослідження фізичних властивостей об'ємних напівпровідникових квантово розмірних структур та надрешіток Назва етапу роботи Керівник роботи Клименко Віктор Васильович, Дата реєстрації 31-01-2011 Організація виконавець Дніпропетровський національний університет імені Олеся Гончара Опис етапу Об'єкт дослідження - Напівпровідникові кванто ворозмірні структури і надрешітки. Мета дослідження - З'ясування природи фізичних явищ у напівпровідникових квантоворозмірних структурах і надрешітках, вивчення можливостей практичного використання, розробка методу отримання об'ємних структур для створення оптичних елементів пам'яті, безконтактних датчиків, елементів оптоелектроніки. Методи дослідження - Вимірювання електрофізичних, оптичних та фотоелектричних явищ у напівпровідникових квантово розмірних структурах і надрешітках та їх теоретичне та експериментальне дослідження. Результати дослідження - Проведена технологічна робота по вирощуванню об'ємних надрешіток з газової фази та дослідження електрофізичних і оптичних явищ у напівпровідникових об'ємних надрешітках n-CdSe - p-ZnTe. Визначено вплив технологічних параметрів росту на характеристики отриманих зразків. Отримані оптимальні технологічні параметри для вирощування двовимірної структури n-CdSe - p-ZnTe. Новизна -Вітчизняних та закордонних аналогів не існує. Сфера використання - напівпровідникове виробництво. Опис продукції Розроблено спосіб отримання напівпровідникових квантоворозмірних структур та надрешіток з газової. Визначені технологічні параметри росту структур та надрешіток, приведені результати досліджень електрофізичних властивостей, оптичних та фотоелектричних явищ. Автори роботи Шилов Євген Андріанович Додано в НРАТ 2020-04-02 Закрити