Знайдено документів: 1
Інформація × Реєстраційний номер 0211U001451, 0110U004509 , Науково-дослідна робота Назва роботи Високороздільна раманівська, нанозондова і радіоспектроскопічна діагностика морфологічних, компонентних, структурних і електрофізичних параметрів наноструктур різного типу: вуглецевих, напівпровідникових, композитних, колоїдних і біологічних. Назва етапу роботи Керівник роботи Прокопенко Ігор Васильович, Валах Михайло Якович, Дата реєстрації 03-02-2011 Організація виконавець Інститут фізики напівпровідників імені В.Є.Лашкарьова НАН України Опис етапу Методами атомно-силової мікроскопії та скануючої конфокальної спектроскопії комбі-наційного розсіювання світла проведено картографування структурно-морфологічних і спек-тральних фононних спектрів КРС одно- і багатошарових SiGe наноструктур з нанометровою і субмікронною просторовою роздільною здатністю. Опис продукції Отримано нові інформаційні дані щодо особливостей механізму росут напівпровідникових наноструктур на основі сполук кремнія та германія. Автори роботи Валах М.Я. Литвин П.М. Ніколенко А.С. Прокопенко І.В. Стрельчук В.В. Додано в НРАТ 2020-04-02 Закрити
НДДКР ОК
Високороздільна раманівська, нанозондова і радіоспектроскопічна діагностика морфологічних, компонентних, структурних і електрофізичних параметрів наноструктур різного типу: вуглецевих, напівпровідникових, композитних, колоїдних і біологічних.
Керівник: Прокопенко Ігор Васильович, Валах Михайло Якович. Високороздільна раманівська, нанозондова і радіоспектроскопічна діагностика морфологічних, компонентних, структурних і електрофізичних параметрів наноструктур різного типу: вуглецевих, напівпровідникових, композитних, колоїдних і біологічних.. (Етап: ). Інститут фізики напівпровідників імені В.Є.Лашкарьова НАН України. № 0211U001451
Знайдено документів: 1

Оновлено: 2026-03-20


Роздрукувати цю сторінку