Пошук академічних текстів

Інформація × Реєстраційний номер 0211U001665, 0109U005353 , Науково-дослідна робота Назва роботи Прецизійне вимірювання імпедансу надпровідників з використанням квазіоптичних діелектричних резонаторів: нові методи експерименту та обробки даних Назва етапу роботи Керівник роботи Черпак Микола Тимофійович, Дата реєстрації 20-01-2011 Організація виконавець Iнститут радіофізики та електроніки ім. О.Я.Усикова НАН України Опис етапу Об'єкт дослідження - високотемпературні надпровідники. Метою роботи є розробка методів прецизійного вимірювання мікрохвильового імпедансу високотемпературних надпровідників, а також методу обробки даних вимірювання. Методи дослідження: вимірювання мікрохвильового відгуку резонаторів за допомогою аналізатора ланцюгів, метод чисельного моделювання характеристик резонатора, аналіз амплітудно-частотної характеристики з використанням дрібно-раціональної функції. Розроблено метод вимірювання поверневого імпедансу плівок високотемпературних надпровідників у міліметровому діапазоні хвиль на основі квазіоптичних діелектричних резонаторів. Для реалізації методу створено лабораторний макет приладу з високодобротним сапфіровим резонатором у формі півкулі. Розроблений метод дозволяє вимірювати дійсну та уявну частини поверхневого імпедансу з високою точністю. Для обробки на комп'ютері даних вимірювання розроблено спеціальний алгоритм та складено обчислювальну програму, що підвищує надійність та точність вимірювання. Наведено результати розробки лабораторного зразка приладу для перетворювача змін діелектричної проникності матеріалів та середовищ у зміну частоти автогенератора. Схема придатна для проведення досліджень діелектричних властивостей матеріалів та реактансних властивостей провідників, включаючи надпровідники. Техніку вимірювання, тобто метод і технічні засоби вимірювання, мікрохвильового імпедансу надпровідників, що була розвинена у роботі, використано для отримання температурної залежності поверхневого опору та глибини проникнення поля в плівках надпровідника типу YBa2Cu3O7- та монокристалу Ba(Fe1-xCox)2As2 відповідно. Опис продукції Розроблено метод вимірювання мікрохвильового поверхневого імпедансу тонких плівок високотемпературних надпровідників (ВТНП). Складено комп'ютерну програму для обробки даних вимірювання Автори роботи Баранник О.А. Скресанов В.М. Черпак М.Т. Додано в НРАТ 2020-04-02 Закрити