Знайдено документів: 1
Керівник: Деркач Вадим Миколайович. Розвиток методів ближньопольової мікроскопії для дослідження властивостей наноматеріалів та матеріалів з негативною рефракцією в міліметровому та субміліметровому діапазонах хвиль. (Етап: ). Iнститут радіофізики та електроніки ім. О.Я.Усикова НАН України. № 0211U004474
Знайдено документів: 1
Оновлено: 2026-03-16
