Пошук академічних текстів

Інформація × Реєстраційний номер 0211U004804, 0109U003908 , Науково-дослідна робота Назва роботи Механічний та фото-електричний аналіз структур на мікрокристалічному кремнії та SiGe для потреб сонячної енергетики Назва етапу роботи Керівник роботи Коротченков Олег Олександрович, Доктор фізико-математичних наук Дата реєстрації 18-02-2011 Організація виконавець Київський національний університет імені Тараса Шевченка Опис етапу Дослідження присвячене вивченню впливу дефектів структури на робочі параметри кремнієвих та кремній-германієвих фотовольтаїчних структур. Загальною метою є вивчення дефекто-залежних фотоелектричних властивостей сонячних елементів на мульти/мікрокристалічному кремнії для покращення їх ефективності. Значна увага буде приділена також вивченню структур SiGe/Si, що є перспективними для створення високоефективних фотовольтаїчних пристроїв. Вивчатиметься також поведінка цих структур в режимі механічних вібраційних навантажень та розроблена комірка, що дозволятиме контролювати вплив механічних вібрацій на фото-електричні параметри вказаних структур. Дослідження будуть проведені з використанням методик, розроблених у Київському та Віденському університетах, що взаємно доповнюють одна одну. Опис продукції Розроблено методику керування вигином енергетичних зон в структурах SiGe/SiO2 при прикладанні механічних напруг мегагерцевого діапазону частот. Виявлено, що ультразвукове навантаження кремнієвих пластин різного типу у водяній ванні суттєво впливає на їх електричні та мікромеханічні властивості внаслідок приповерхневого вигину зон. Виявлені закономірності відкривають шлях до керування електронними властивостями шарів SiGe, корисними до застосувань у технології сонячних елементів. Автори роботи Коротченков Олег Олександрович Курилюк Василь Васильович Надточій Андрій Борисович Подолян Артем Олександрович Додано в НРАТ 2020-04-02 Закрити