Реєстраційний номер
0212U000178,
0111U004962
, Науково-дослідна робота
Назва роботи
Нанорозмірна характеризація халькогенідних та халькогенгалогенідних стекол з вмістом металів та рідкісноземельних елементів для прогресивних технологічних застосувань
Назва етапу роботи
Керівник роботи
Кавецький Тарас Степанович, Кандидат фізико-математичних наук
Дата реєстрації
20-01-2012
Організація виконавець
Дрогобицький державний педагогічний університет імені Івана Франка
Опис етапу
В роботі проведено нанорозмірну характеризацію халькогенідних стекол з вмістом металів систем As2Se3-Ag/AgI, As2S3-Ag/AgI, As2Se3:Bi, As2Se3-Bi2Se3. Встановлено кореляції на атомному нанорозмірному рівні для зразків систем As2Se3-Ag/AgI та As2S3-Ag/AgI з використанням техніки вимірювання магнітної сприйнятливості. Оцінено концентрацію магніто-впорядкованих кластерів (Ncl) і парамагнітних центрів у одному кластері (N0). Встановлено кореляції на атомно-дефіцитному нанорозмірному рівні для зразків систем As2Se3:Bi та As2Se3-Bi2Se3 (або (As1?xBix)2Se3) з використанням техніки вимірювання мікротвердості від прикладеного навантаження (розмірний ефект мікровдавлювання). Виявлено динамічні ефекти спектрів 109Ag ЯМР для скла (As2S3)65(AgI)35 із збільшенням температури у досліджуваному температурному діапазоні 295-415 K. На основі комбінації методів високоенергетичної синхротронної рентгенівської дифракції, тонкої структури рентгенівських спектрів поглинання (EXAFS), реверсивного Монте-Карло (РМК) моделювання дифракційних даних, високороздільної раманівської спектроскопії та першопринципних чи DFT розрахунків оцінено особливості ближнього та середнього порядків халькогенгалогенідних стекол з вмістом металів на основі системи Ge-In-S-AgI для досліджуваних хімічних складів 50GeS2-20In2S3-30AgI, 60GeS2-20In2S3-20AgI та 65GeS2-20In2S3-15AgI.
Опис продукції
Параметри нанорозмірної характеризації халькогенідних та халькогенгалогенідних стекол з вмістом металів систем As2Se3-Ag/AgI, As2S3-Ag/AgI, As2Se3:Bi, As2Se3-Bi2Se3, Ge-In-S-AgI, що отримані з використанням методів вимірювання магнітної сприйнятливості матеріалів, вимірювання мікротвердості від прикладеного навантаження (розмірний ефект мікровдавлювання), 109Ag ЯМР, високоенергетичної синхротронної рентгенівської дифракції, тонкої структури рентгенівських спектрів поглинання (EXAFS), реверсивного Монте-Карло (РМК) моделювання дифракційних даних, високороздільної раманівської спектроскопії та першопринципних чи DFT розрахунків.
Автори роботи
Зайцев Олександр Вадимович
Кавецька Надія Маркіянівна
Кавецький Орест Степанович
Кавецький Тарас Степанович
Матлак Олена Сергіївна
Цмоць Володимир Михайлович
Додано/оновлено в НРАТ
2020-04-02
