Пошук академічних текстів

Інформація × Реєстраційний номер 0212U001129, 0111U005822 , Науково-дослідна робота Назва роботи Еліпсометричні дослідження шарів наночастинок з урахуванням взаємодії між частинками Назва етапу роботи Керівник роботи Борщагівський Євген Григорович, Дата реєстрації 17-01-2012 Організація виконавець Інститут фізики напівпровідників імені В.Є.Лашкарьова НАН України Опис етапу Об'єкт дослідження - прояв прямої електромагнітної взаємодії між наночастинками. Мета роботи: розробка методик еліпсометричного дослідження шарів наночастинок з урахуванням взаємодії між частинками. Методи дослідження: еліпсометрія шарів наночастинок та моделювання електромагнітних взаємодій методами ефективної поляризовності. Основною проблемою при дослідженні наноструктурованих плівок на поверхні є врахування взаємодій між частинками, що утворюють плівку. На відміну від тривимірного випадку нанокомпозиту, плівки на поверхні мають геометрично задану анізотропію, що додатково ускладнює завдання і робить непридатним використання стандартних моделей ефективного середовища (моделі Максвелла-Гарнета, Бругемана) для опису таких плівок. Нами розробляється підхід, заснований на рішенні рівняння Ліпмана-Швінгера, що дозволяє розраховувати оптичний відгук плівки за допомогою тензора ефективної поляризовності. В рамках методу локального поля побудовано теоретичну модель оптичного відгуку суб-моношару наночастинок, що покривають поверхню. Для систем, які моделюються як підкладинка з розташованими на ній частинками, що мають форму еліпсоїда обертання, була розрахована ефективна сприйнятливість. Це дало змогу визначити залежності коефіцієнтів відбиття та еліпсометричних параметрів від кута падіння та частоти. Наявність субмоношару наночастинок на поверхні дає помітний внесок у еліпсометрічні параметри, що може бути вимірянно експериментально. Знайдено, що ці еліпсометричні параметри залежать від концентрації та форми частинок. НАНОКОМПОЗИТ, НАНОЧАСТИНКА, ЕЛЕКТРОМАГНІТНЕ ПОЛЕ, ПОЛЯРИЗОВНІСТЬ, ДІЕЛЕКТРИЧНА ФУНКЦІЯ, ПЛАЗМОН, ЕЛІПСОМЕТРІЯ Опис продукції Спектральні еліпсометричні дослідження шарів наночастинок з різних матеріалів, різної форми та з різними властивостями ансамблю частинок, а також розробка самоузгодженого підходу та моделей для опису оптичних властивостей таких систем. Зазначені нові підходи дозволяють проводити якісно новий аналіз наноструктур простими оптичними методами та приладами. Планується використання для побудови сенсорів, що використовуються в екології, біології, медицині, військовій техніці. Автори роботи Є.Г. Борщагівський В.З. Лозовський Д.О. Гринько Т.О. Мішакова Додано в НРАТ 2020-04-02 Закрити