Пошук академічних текстів

Інформація × Реєстраційний номер 0213U001284, 0111U002281 , Науково-дослідна робота Назва роботи Розробка рентгенівських методів аналізу елементного складу, структури та субструктури наноматеріалів Назва етапу роботи Керівник роботи Михайлов Ігор Федорович, Дата реєстрації 08-02-2013 Організація виконавець Національний технічний університет "Харківський політехнічний інститут" Опис етапу 1. Об'єкт дослідження: структурні та субструктурні особливості новітніх матеріалів: надтонких металевих та неметалевих покриттів, багатошарових структур та квазікристалів. Мета роботи: розробка спеціфічних рентгенівських методів дослідження хімічного складу та структури наноматеріалів, включаючи надтонкі покриття, багатошарові структури, квазікристали. Методи дослідження: рентгенівська флуоресцентна спектрометрія, рентгенівська дифрактометрія, рентгенівська рефлектометрія. Наукове та практичне значення отриманих результатів полягає у розробці рентгенівських методів аналізу легких елементів у важкій матриці за комптонівським розсіянням на зв'язаних електронах; розробці рентгенівських методів дослідження структури та субструктури нано-розмірних покриттів у ковзній геометрії; розробці методів рентгенівського дослідженняґ структури та субструктури квазікристалів. Опис продукції Розроблені рентгенівські методіи дослідження хімічного складу, структури та субструктури наноматеріалів, включаючи (1) метод аналізу за комптонівським розсіянням на зв'язаних електронах; метод включає кристал-дифракційну схему із вторинним випромінювачем, яка забезпечує3-10 виграш у контрастності при вимірюванні вмісту легких елементів у важкій матриці; (2) методд неруйнівного аналізу дефектів стехіометрії та їх нанокомплексів в бінарних сполуках за комптонівським та релєєвським розсіянням рентгенівських променів; (3) метод дослідження структури та субструктури нано-розмірних покриттів та нано-розмірних поверхневих шарів у ковзній геометрії зйомки; (4) методи рентгенівського дослідження структури та субструктури квазікристалів шляхом побудови тривимірних графіків залежності інтегральної ширини дифракйійних максимумів від дифракційних векторів у фізичному та перпендикулярному просторі Автори роботи Бабенко Ігор Миколайович Батурін Олексій Анатолійович Борисова Світлана Серафимівна Малихін Сергій Володимирович Пінегин Володимир Іванович Фоміна Лариса Петрівна Додано в НРАТ 2020-04-02 Закрити