Реєстраційний номер
0213U002077,
0112U004660
, Науково-дослідна робота
Назва роботи
Еліпсометричні дослідження шарів наночастинок з урахуванням міжчастинкової взаємодії
Назва етапу роботи
Керівник роботи
Борщагівський Євген Григорович,
Дата реєстрації
14-01-2013
Організація виконавець
Інститут фізики напівпровідників імені В.Є.Лашкарьова НАН України
Опис етапу
Об'єкт дослідження - прояв прямої електромагнітної взаємодії між наночастинками які утворюють субмоношар на поверхні в залежності від параметрів частинок та моношару. Мета роботи: розробка методик еліпсометричного дослідження шарів наночастинок з урахуванням взаємодії між частинками. Методи дослідження: еліпсометрія та електронна мікроскопія шарів наночастинок та моделювання електромагнітних взаємодій методами ефективної поляризовості. В рамках методу локального поля було побудовано теоретичну модель оптичного відгуку суб-моношару молекул або наночастинок, що покривають поверхню. Наявність субмоношару наночастинок на поверхні дає помітний внесок у еліпсометрічні параметри, що може бути вимірянно експериментально. Показано, що еліпсометричні параметри суттєво залежать від концентрації, розміру та форми частинок.
Опис продукції
Спектральні еліпсометричні дослідження шарів наночастинок з різних матеріалів, різної форми та з різними властивостями ансамблю частинок, а також розробка самоузгодженого підходу та моделей для опису оптичних властивостей таких систем. Зазначені нові підходи дозволяють проводити якісно новий аналіз наноструктур простими оптичними методами та приладами. Планується використання для побудови сенсорів, що використовуються в екології, біології, медицині, військовій техніці.
Автори роботи
Борщагівський Є.Г.
Гринько Д.О.
Лозовський В.З.
Мішакова Т.О.
Додано/оновлено в НРАТ
2020-04-02
