Пошук академічних текстів

Інформація × Реєстраційний номер 0213U002301, 0110U006231 , Науково-дослідна робота Назва роботи Комплексна діагностика та вивчення нових функціональних матеріалів на основі анізометричних наночастинок в м'яких анізотропних середовищах для систем запису, обробки та відображення інформації за допомогою методів сингулярної оптики. Назва етапу роботи Керівник роботи Соскін Марат Самуїлович, Дата реєстрації 23-01-2013 Організація виконавець Інститут фізики НАН України Опис етапу Шляхом Стокс-поляриметричних вимірювань показано, що степінь когерентності квазімонохроматичного світла, що проходить крізь комірку з композитом рідкий кристал-нанотрубки зменшується. Це зменшення не можна зв'язати лише з великою різницею в оптичній довжині для звичайного та незвичайного променів. Показано, що степінь когерентності відрізняється для областей, що належать перехідному шару РК та областей незбуреного нематика. Прикладання зовнішньої напруги призводить до зміни степені когерентності. Запропонована модель, що якісно інтерпретує зменшення степені когерентності в залежності від співвідношення часу експозицій ПЗС матриці до характерного часу динамічних процесів у РК матриці. При прикладенні до композиту зовнішнього електричного поля збурення рідкого кристалу, що існують навколо кластерів, поширюються в зону незбуреного нематика. Характерною ознакою поля збуреного рідкого кристалу є наявність у ньому інверсних стінок. Рідкокристалічна матриця з збуреннями може розглядатися як амплітудна маска, що моделює різницю фаз між звичайним та незвичайним променем. Наявність інверсних стінок призводить до значної фазової модуляції навіть при переорієнтації більшої частини кристала у гомеотропний стан. Пряме вимірювання локальної прозорості в околі перехідного шару та співставлення зміни розсіяння світла композитом та зміни характеристик перехідного шару, показує тісний зв'язок між цими явищами. Опис продукції Методи сингулярної і поляризаційної оптики з високою роздільною здатністю для комплексної діагностики та вивчення рідкокристалічних середовищ (РС) з анізометричними наночастинками, зокрема з багатошаровими вуглецевими нанотрубками. Додатковий аналіз степіні когерентності квазімонохроматичного випромінюванння, що проходить крізь комірку з композитом рідкий кристал-нанотрубки та аналіз рідкокристалічної матриці зі збуреннями з точки зору амплітудної маски, що моделює різницю фаз між звичайним та незвичайним променем дозволяє збільшити точність комплексної діагностики РС. Автори роботи Васильєв Василь Ігоревич Поневчинський Владіслав Вікторович Соскін Марат Самуїлович Додано в НРАТ 2020-04-02 Закрити