Пошук академічних текстів

Інформація × Реєстраційний номер 0214U001028, 0110U006038 , Науково-дослідна робота Назва роботи Розроблення апаратури для високороздільної рентгенівської діагностики наноматеріалів, наноструктур та аморфних сплавів Назва етапу роботи Керівник роботи Кладько Василь Петрович, Дата реєстрації 15-01-2014 Організація виконавець Інститут фізики напівпровідників імені В.Є.Лашкарьова НАН України Опис етапу Досліджено морфологічні та структурні властивості GaN ансамблів NW на Si(111). З використанням методів рентгенівської дифракції було визначено просторову орієнтацію розподілу нанодротів в ансамблі, а також їх деформаційний стан. З положення та форми рентгенівських дифракційних максимумів отримана інформація про деформації і розміри, а також розподіл орієнтацій в ансамблі нанодротів. Проведено аналіз деформаційного стану і процесів релаксації деформацій в таких структурах на різних етапах епітаксійного росту. Розроблені методи аналізу експериментальних карт розподілу інтенсивності для таких структур, що дозволило виміряти рівні деформації, ступінь релаксації, геометричні розміри. Опис продукції Методи моделювання розподілів інтенсивності навколо вузлів оберненої гратки для системи нанодротів для отримання їх структурно-деформаційних параметрів, котрі на відміну від опису розподілом Гаусса чи Лоренца має цілком певний фізичний зміст Автори роботи Єфанов Олександр Миколайович Гудименко Олександр Йосипович Кучук Андріан Володимирович Максименко Зоя Василівна Мачулін Володимир Федрович Проскуренко Наталя Миколаївна Садова Тетяна Володимирівна Сафрюк Надія Володимирівна Слободян Микола Васильович Стадник Олександр Анатолійович Додано в НРАТ 2020-04-02 Закрити