Пошук академічних текстів

Інформація × Реєстраційний номер 0214U001030, 0113U004863 , Науково-дослідна робота Назва роботи Високороздільна X-променева діагностика одномірних та планарних наноструткур GaN на підкладках кремнію Назва етапу роботи Керівник роботи Кучук Андріан Володимирович, Дата реєстрації 15-01-2014 Організація виконавець Інститут фізики напівпровідників імені В.Є.Лашкарьова НАН України Опис етапу Представлені результати досліджень методом високорздільної Х-роменевої дифрактометрії структурної досконалості епітаксійних GaN структур, вирощених на Si(111) підкладці. Досліджені закономірності розподілу деформацій та зміни густини крайових та гвинтових дислокацій в залежності від товщини буферних шарів. Опис продукції Розроблені методичні основи дифрактометрії 1-вимірних наноструктур. Розвинута методика розрахунку та аналізу КДВ для 1-вимірних наноструктур. Автори роботи Поліщук Юлія Олегівна Станчу Григорій Вікторович Додано в НРАТ 2020-04-02 Закрити